半导体分立器件I-V特性测试方案

泰克吉时利公司开发的高精度源测量单元（SMU）为核心测试设备，配备CycleStar测试软件和精准稳定的探针台，提供可靠易用的半导体分立器件I-V特性测试方案。该方案具有丰富的内置元器件库、自动执行测试和计算过程、精准稳定的探针台以及支持同时操作两台吉时利源表等特点。测试功能包括二极管、BJT、MOSFET等器件的特性测量与分析，以及MOS器件参数提取。系统结构包括源测量单元、夹具或探针台、上位机软件等。安泰测试与泰克吉时利合作，为客户提供优质的服务和全面的测试方案。

半导体分立器件I-V特性测试方案：

半导体分立器件是组成集成电路的基础，包含大量的双端口或三端口器件，如二极管，晶体管，场效应管等。直流I-V测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析，或I-V曲线，来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多，引脚数量和待测参数各不相同，除此以外，新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求，要求测试设备具备更高的低电流测试能力，且能够支持各种功率范围的器件。

分立器件I-V特性测试的主要目的是通过实验，帮助工程师提取半导体器件的基本I-V特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。随着器件几何尺寸的减小，半导体器件特性测试对测试系统的要求越来越高。通常这些器件的接触电极尺寸只有微米量级，这些对低噪声源表，探针台和显微镜性能都提出了更高的要求。

半导体分立器件I-V特性测试方案，泰克公司与合作伙伴使用泰克吉时利公司开发的高精度源测量单元（SMU）为核心测试设备，配备使用简便灵活，功能丰富的CycleStar测试软件，及精准稳定的探针台，为客户提供了可靠易用的解决方案，极大的提高了用户的工作效率。

吉时利方案特点：
- 丰富的内置元器件库，可以根据测试要求选择所需要的待测件类型；
- 测试和计算过程由软件自动执行，能够显示数据和曲线，节省了大量的时间；
- 精准稳定的探针台，针座分辨率可高达0.7um，显微镜放大倍数最高可达x195倍；
- 最高支持同时操作两台吉时利源表，可以完成三端口器件测试。

测试功能：
- 二极管特性的测量与分析
- 极型晶体管BJT特性的测量与分析
- MOSFET场效应晶体管特性的测量与分析
- MOS器件的参数提取

系统结构：
系统主要由一台或两台源精密源测量单元（SMU）、夹具或探针台、上位机软件构成。以三端口MOSFET器件为例，共需要以下设备：
1. 两台吉时利2450精密源测量单元
2. 四根三同轴电缆
3. 夹具或带有三同轴接口的探针台
4. 三同轴T型头
5. 上位机软件与源测量单元（SMU）的连接方式如下图所示，可以使用LAN/USB/GPIB中的任何一个接口进行连接。

典型方案配置：
（此处省略图片）

安泰测试已为西安多所院校、企业和研究所提供吉时利源表现场演示，并获得客户的高度认可，安泰测试将和泰克吉时利厂家一起，为客户提供更优质的服务和全面的测试方案，为客户解忧。